（1）光纤光谱仪是光纤技术的引入，使待测物脱离了样品池的---，采样方式变得更为灵活，利用光纤探头把远离光谱仪器的样品光谱源引到光谱仪器，以适应被测样品的复杂形状和位置。由光纤引入光信号还可使仪器内部与外界环境隔绝，可增强对---环境（潮湿气候、强电场干扰、腐蚀性气体）的抵抗能力，---了光谱仪的长期---运行，延长使用寿命。
（2）光纤光谱仪以电荷耦合器件（ccd）阵列作为检测器，对光谱的扫描不必移动光栅，可进行瞬态采集，响应速度极快（测量时间为13～15ms），并通过计算机实时输出。
（3）光纤光谱仪采用全息光栅作为分光器件，杂散光低，提高了测量精度。
1、发射光谱测量
发射光谱测量可以用不一样的实验布局和波长范围来实现，还要用到余弦校正器或积分球。发射光谱测量可以在紫外/可见和可见/近红外波长范围内测量。
针对发射光谱的测量，光谱仪可以配置成波长范围从200-400nm或350-1100nm，或组合起来实现紫外/可见200-1100nm，拉曼小型光纤光谱仪多少钱，并可以在美国海洋光学公司的定标实验室里进行辐射定标。定标后的实验布局不可以改变，如光纤和匀光器都不可以更改。
2、led测量
比较简单而且迅速地测量led的整个光通量的方法就是使用一个积分球，并把它连接到一个美国海洋光学公司的光谱仪上。该系统可以用卤素灯进行定标（ls-1-cal-int），然后用广州标旗软件从测量到的光谱分布计算出相关参数，并实现辐射量的测量。所测光源的光谱发光强度还可以用μw/cm2/nm来计算、显示并存储。另外的窗口还可以显示大约10个参数：辐射量μw/cm2，μj/cm2，μw或μj；光通量lux或lumen，色轴x，y，z，x，y，通用型小型光纤光谱仪多少钱，z，u，v和色温。
3、薄膜厚度测量
光学的膜厚测量系统基于白光干涉测量原理，可以测量的膜层厚度10nm-50μm，分辨率为1nm。薄膜测量在半导体晶片生长过程中经常被用到，因为等离子体刻蚀和淀积过程需要监控；其它应用如在金属和玻璃材料基底上镀透明光学膜层也需要测量膜层厚度。
光纤光谱仪是属于光谱仪一种常用类型，具备有灵敏度高、操作方法简便、使用灵活、稳定性能好、度---的优点。
光纤光谱仪结构紧凑，其中包括入射狭缝、准直物镜、光栅、成像反射镜、滤和阵列探测器，还其中包括数据采集系统和数据处理系统。光信号经入射狭缝投射到准直物镜上，将发散光变成准平行光反射到光栅上，色散后经成像反射镜将光谱仪呈在阵列的接收面上，形成光谱仪谱面。光谱仪谱面既是单色光的序列排布（有次光谱仪影响），通用型小型光纤光谱仪多少钱，让整个光谱仪中任一个微小谱带照射到相对应探测器的像元上，在这里将光信号转换成电子信号后，经模拟数字转换，a/d放大，后由电器系统控制终端显示输出。从而完成各种光谱仪信号测量分析。
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