光谱仪通常包括入射狭缝、准直镜、色散元件(光栅或棱镜)、---光学系统和探测器。
1.入射狭缝:将入射光信号导入光谱仪内部;
2.准直镜:平行光学信号的光。准直器可以是透镜、反射镜或色散元件的部分功能，如凹面光栅光谱仪中凹面光栅的部分功能;
3.色散部分:通常采用光栅，将平行光行色散进入空间;
4.---部分:收集色散光学信号，使入射狭缝的大部分单像---在焦平面上;
5.阵列检测器ccd:将其放置在焦平面上，以检测大多数单像的光强。探测器可以是ccd阵列或其他光检测阵列。(有些人会在阵列探测器前面加一个过滤器，以减少杂散光的影响。
1、发射光谱测量
发射光谱测量可以用不一样的实验布局和波长范围来实现，还要用到余弦校正器或积分球。发射光谱测量可以在紫外/可见和可见/近红外波长范围内测量。
针对发射光谱的测量，光谱仪可以配置成波长范围从200-400nm或350-1100nm，或组合起来实现紫外/可见200-1100nm，并可以在美国海洋光学公司的定标实验室里进行辐射定标。定标后的实验布局不可以改变，如光纤和匀光器都不可以更改。
2、led测量
比较简单而且迅速地测量led的整个光通量的方法就是使用一个积分球，并把它连接到一个美国海洋光学公司的光谱仪上。该系统可以用卤素灯进行定标（ls-1-cal-int），然后用广州标旗软件从测量到的光谱分布计算出相关参数，马鞍山小型光纤光谱仪价格，并实现辐射量的测量。所测光源的光谱发光强度还可以用μw/cm2/nm来计算、显示并存储。另外的窗口还可以显示大约10个参数：辐射量μw/cm2，μj/cm2，μw或μj；光通量lux或lumen，色轴x，拉曼小型光纤光谱仪价格，y，z，x，y，z，u，v和色温。
3、薄膜厚度测量
光学的膜厚测量系统基于白光干涉测量原理，可以测量的膜层厚度10nm-50μm，分辨率为1nm。薄膜测量在半导体晶片生长过程中经常被用到，因为等离子体刻蚀和淀积过程需要监控；其它应用如在金属和玻璃材料基底上镀透明光学膜层也需要测量膜层厚度。
随着激光技术越来越广泛地用于工业加工、通信、测量，通用型小型光纤光谱仪价格，以及科研等领域，快捷地测量和分析激光器的光谱已经成为一种迫切需求。通过光谱仪，我们可以方便地监测激光的波长、幅值、半宽值（fwhm）、波峰数目等参数随时间变化的情况。我们甚至还可以自定义一些参量，并观察它们随时间的变化情况。我们可以选择多通道光谱仪覆盖全部的200～1100 nm波长范围，同时还可以满足高分辨率的需求，也可以选择只覆盖紫外部分、可见或近红外部分的激光光谱。当然，如何选择终仍要取决于用户的实际需求。
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