光谱分析仪的工作原理，光谱仪可以分为两大类：---光谱仪和新型光谱仪。---光谱仪器是建立在空间色散原理上的仪器；新型光谱仪器是建立在调制原理上的仪器。---光谱仪器都是狭缝光谱仪器。调制光谱仪是非空间分光的，它采用圆孔进光根据色散组件的分光原理，光谱仪器可分为：棱镜光谱仪，衍射光栅光谱仪和干涉光谱仪。
光纤光谱仪的应用领域非常广泛，如农业、天文、汽车、生物、化学、镀膜、色度计量、环境检测、薄膜工业、食品、 宝石 检测、led检测、印刷、造纸、喇曼光谱、半导体工业等。当然，大家关心的当然是居住环境的监测指标。通过使用光学光谱仪，我们可以进行材料(金属/非金属)成分的检测、光谱检测、 led检测等等。
1、发射光谱测量
发射光谱测量可以用不一样的实验布局和波长范围来实现，还要用到余弦校正器或积分球。发射光谱测量可以在紫外/可见和可见/近红外波长范围内测量。
针对发射光谱的测量，光谱仪可以配置成波长范围从200-400nm或350-1100nm，或组合起来实现紫外/可见200-1100nm，光纤光谱仪厂家，并可以在美国海洋光学公司的定标实验室里进行辐射定标。定标后的实验布局不可以改变，如光纤和匀光器都不可以更改。
2、led测量
比较简单而且迅速地测量led的整个光通量的方法就是使用一个积分球，并把它连接到一个美国海洋光学公司的光谱仪上。该系统可以用卤素灯进行定标（ls-1-cal-int），然后用广州标旗软件从测量到的光谱分布计算出相关参数，并实现辐射量的测量。所测光源的光谱发光强度还可以用μw/cm2/nm来计算、显示并存储。另外的窗口还可以显示大约10个参数：辐射量μw/cm2，μj/cm2，μw或μj；光通量lux或lumen，色轴x，光纤光谱仪公司，y，z，x，y，光纤光谱仪系统，z，u，光纤光谱仪，v和色温。
3、薄膜厚度测量
光学的膜厚测量系统基于白光干涉测量原理，可以测量的膜层厚度10nm-50μm，分辨率为1nm。薄膜测量在半导体晶片生长过程中经常被用到，因为等离子体刻蚀和淀积过程需要监控；其它应用如在金属和玻璃材料基底上镀透明光学膜层也需要测量膜层厚度。
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